WaveMaster® PRO 2 / PRO 2 Wafer sind vollautomatisierte Wellenfront-Mess-Systeme mit Shack-Hartmann-Sensoren für die Serienprüfung von Optiken und optischen Wafern.

Tray für die Aufnahme von Linsen
Tray für die Aufnahme von Linsen

Die Anforderungen an die Qualität und Effizienz der Massenfertigung von kleinen Kunststoff- oder Glaslinsen und optischen Fenstern steigen ständig. Hier können durch den Einsatz der Wellenfront-Messtechnik in der Massenfertigung noch viele Optimierungen erreicht werden.

WaveMaster® PRO 2 & PRO 2 Wafer setzen neue Standards bei der Serienprüfung von Optiken und optischen Wafern. Mit einer typischen Messzeit von 2 s pro Optik und einem schnellen Tray oder Waferwechsel werden die Voraussetzungen für den Einsatz in der Massenfertigung geschaffen. Messtechnisch ermitteln WaveMaster® PRO 2 & PRO 2 Wafer mit einem Shack-Hartmann Sensor die Wellenfront, aus der verschiedene Parameter, abgeleitet werden. Anschließend erfolgt pro Linse ein Abgleich mit den Designdaten. Eine sehr gute Datenbasis für weitere Optimierungen in der Fertigung.

Hauptmerkmale

  • Messzeit: < 2s Messzeit pro Optik und Mess-Schritt
  • Vollautomatisierte Messung einer großen Anzahl von Prüflingen (Wafer oder beladene Trays)
  • Benutzerdefinierte Pass /Fail Kriterien
  • Messung der absoluten oder relativen Wellenfront
  • Vollständige Wellenfront-Analyse (PV, RMS, Zernike, PSF, MTF, Strehl)
  • Export der Messdaten jeder einzelnen Linse
  • Erhältlich in zwei Setups
    • Setup für die Messung von sphärischen und asphärischen Linsen und Wafern
    • Setup für die Messung von Planflächen ( Einzelfläche oder auf einem Wafer)
  • Optional: integriertes Mess-System für die Messung der Wafer-Orientierung, Wafer-Durchbiegung und -Verkippung

     

Anwendungen

Qualitätskontrolle von

  • Sphärischen und asphärischen Linsen
  • Optischen Fenstern
  • Filtern
  • Optischen Wafern

Mit Shack-Hartmann Sensoren in der Serienfertigung:

  • Vergleich mit Design-Daten mit Hilfe der Zernike-Koeffizienten
  • Direkter Vergleich mit Masterprüflingen
  • Abbildungsqualität (MTF), Materialdefekte und Produktionsfehler mit Hilfe der Wellenfrontanalyse ermitteln
  • Keilwinkel an Planflächen (optional)
  • Brennweiten (optional