WaveMaster® Compact - Ideal für die Wellenfront-Messung von Einzellinsen und optischen Systemen in der Qualitätssicherung

WaveMaster® Compact für Shack-Hartmann basierte Wellenfrontmessung
WaveMaster® Compact für Shack-Hartmann basierte Wellenfrontmessung

Der WaveMaster® Compact wird in der Qualitätskontrolle sphärischer und asphärischer Optiken eingesetzt und ist ebenfalls für einfache Entwicklungsaufgaben geeignet. Es ist ein schnelles und präzises Instrument, dass nach dem Shack-Hartmann-Prinzip arbeitet. Die Handhabung ist einfach und auf hohen Probendurchsatz optimiert.

Hauptmerkmale

  • Schnell und einfach auf unterschiedliche Prüflingstypen anpassbar, austauschbare Vergrößerungsoptik in kinematischer Halterung
  • Hohe Messgeschwindigkeit für hohen Probendurchsatz
  • Prüflingshalter für genaue Ausrichtungen
  • Bei Wellenfront-Messungen von Prüflingsserien ist nur ein minimales Nachausrichten der Prüflinge erforderlich
  • Hohe Messgenauigkeit des Shack-Hartmann-Sensors
  • Automatische Fokussierung der Lichtquelle
  • Automatische Positionierung des Wellenfront-Sensors und der Abbildungsoptik in der Austrittspupille
  • Echtzeit-Abgleich zwischen Wellenfrontdaten und Musterlinsen oder Designwerten
  • Punktlichtquelle mit unterschiedlichen numerischen Aperturen erhältlich (bis 0,95)
  • Vibrationsunempfindlicher Aufbau
  • Umfangreiche Softwarefunktionen für die Messung und Analyse

Anwendungen

Finit-Messung mit Shack-Hartmann-Sensor in Transmission
Finit-Messung mit Shack-Hartmann-Sensor in Transmission

Der WaveMaster® Compact ermittelt mit dem eingebauten Shack-Hartmann-Sensor folgende Parameter:

  • Messung der Wellenfront (PV, RMS)
  • Bestimmung der Zernike Koeffizienten
  • Messung der Punktbildfunktion (PSF)
  • Messung der Modulationsübertragungsfunktion (MTF)
  • Messung des Strehl- Verhältnisses
  • Keilwinkel