WaveMaster® Compact Reflex - Oberflächentopographiemessung von Einzellinsen mit Shack-Hartmann-Sensoren

WaveMaster® Compact Reflex
WaveMaster® Compact Reflex

Der auf einfache Handhabung und Flexibilität optimierte WaveMaster® COMPACT Reflex misst Oberflächenprofile und den Krümmungsradius mit einen Shack-Hartmann-Sensor in Reflexion.

Hauptmerkmale

  • Schnelle Messung von Oberflächenprofilen mit Shack-Hartmann-Sensoren
  • Schnell und einfach auf unterschiedliche Prüflingstypen anpassbar
  • Hohe Messgeschwindigkeit für hohen Probendurchsatz
  • Hochpräziser Prüflingshalter für das Ausrichten im Submikrometerbereich
  • Bei Wellenfront-Messungen von Prüflingsserien ist nur ein minimales Nachausrichten der Prüflinge erforderlich
  • Automatische Fokussierung
  • Automatische Positionierung des Wellenfront-Sensors und der Abbildungsoptik in der Austrittspupille
  • Echtzeit-Abgleich mit Profildaten oder Designwerten
  • Punktlichtquelle mit unterschiedlichen numerischen Aperturen und Arbeitsabständen erhältlich (bis 0,95)
  • Vibrationsunempfindlicher Aufbau
  • Umfangreiche Softwarefunktionen für die Messung und Analyse der Oberflächen mit Shack-Hartmann-Sensoren

Anwendungen

Oberflächenmessung in Reflektion mit einem Shack-Hartmann-Sensor
Oberflächenmessung in Reflextion mit einem Shack-Hartmann-Sensor

Der WaveMaster® Compact Reflex kann für folgende Anwendungen eingesetzt werden:

  • Messung der Oberflächentopographie von asphärischen Linsen und plane Flächen
  • Radiusmessung