ImageMaster® PRO 5 Wafer – MTF-Messung von Wafer-Level-Optiken

Messkammer ImageMaster® PRO 5 Wafer
Messkammer ImageMaster® PRO 5 Wafer

ImageMaster® PRO 5 Wafer wurde speziell für die Anforderungen der Qualitätssicherung bei der Fertigung von Wafer-Level-Optiken der neusten Generation entwickelt. Anwendungsbereiche sind beispielsweise Mobiltelefon- und Digitalkameras oder Kfz-Sensoren, die in großen Stückzahlen auf Wafern gefertigt werden. Innerhalb eines einzigen vollautomatischen Hochgeschwindigkeits-Prüflaufs lassen sich optische Wafer jeglicher Größe bis zu einem Durchmesser von 200 mm sowie Tausende Miniaturlinsen oder -objektive testen. Der ImageMaster® PRO 5 Wafer wird vollautomatisch betrieben und ist in der Lage, Linsen auf einem kreisförmigen Wafer oder Einzellinsen in einem entsprechenden Tray zu messen.

Hauptmerkmale

  • Schnellste MTF-Messmethode (weniger als 1 Sek. pro Linse) bei fester Messposition in der Bildebene
  • Höchste FFL-Genauigkeit für die Bestimmung der Dicke von Distanzscheiben
  • Neigungskorrekturfunktion (Ausgleich der Durchbiegung)
  • Messungen auf internationale Normen rückführbar
  • Messung der Wafer-Durchbiegung
  • Max. Wafer-Durchmesser bis zu 200 mm (8 inch)
    (auf Anfrage 300 mm/12 inch)
  • Schnelle softwaregesteuerte Wafer-Ausrichtung
  • Datenverarbeitung für die folgenden Fertigungsschritte
  • Leuchtanzeige für den Betriebsstatus
  • Einfache Beladung dank kinematischer Halterung, Wafer-Dreh- und Ausrichtfunktion
  • Für jede Linsenart kann aus einer Auswahl an i.O./n.i.O.-Kriterien die am besten geeignete Option gewählt werden
  • Reinraumkompatibel gemäß ISO 5

Anwendungen

ImageMaster® PRO 5 Wafer – MTF-Messungen von Wafer-Level-Optiken:

  • MTF auf der Achse und außeraxial
  • Brennweite (EFL)
  • Anlagemaß (FFL)
  • Bildfeldwölbung
  • Schärfentiefe
  • Chromatische Aberrationen
  • Astigmatismus
  • Relative Verzeichnung